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  · Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：     Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是一
更新時(shí)間: 2025-02-27
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